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Flash寿命

• 优化OTA固件更新中的SPI Flash寿命：磨损均衡与健康度监控实践

  在物联网设备和嵌入式系统中，通过OTA（Over-The-Air）进行固件更新已成为标准实践。外部SPI Flash作为固件存储介质，其擦写寿命（通常为1万到10万次循环）是一个不容忽视的关键问题。频繁的OTA更新操作若不加注意，可能导致...

  2026/1/26 0 30 0 0 0 SPI FlashOTA磨损均衡

• 资源受限MCU上A/B分区OTA的Flash内存布局优化实践

  在嵌入式系统，尤其是资源受限的MCU（如STM32系列）上实现OTA（Over-The-Air）固件升级，A/B分区方案因其高可靠性和回滚能力而备受青睐。然而，有限的Flash空间是其最大的挑战。本文将深入探讨如何在有限的Flash空间内...

  2026/1/26 0 38 0 0 0 STM32OTA升级内存布局

• 物联网设备Flash寿命管理：如何设计一种平衡读写次数与功耗的折衷算法？

  在物联网设备开发中，Flash存储器的寿命管理是一个核心问题。特别是对于频繁写入的场景（例如10万次擦写），直接采用简单的写入策略会迅速消耗Flash寿命。今天，我们来探讨一种折衷算法，旨在减少写入次数，同时避免引入过高的计算开销。 ...

  2026/1/26 0 23 0 0 0 物联网开发Flash寿命功耗优化

• Flash存储“巧妙”磨损均衡：兼顾寿命与高速缓存读写效率的系统级策略

  各位技术同仁，大家好！ 在嵌入式系统和物联网设备开发中，Flash存储介质因其非易失性、体积小巧等优点被广泛应用。然而，Flash的擦写寿命限制（P/E Cycles）始终是绕不开的话题。常规的磨损均衡（Wear Leveling）策...

  2026/1/22 0 31 0 0 0 Flash存储磨损均衡寿命优化

• 边缘AI设备Flash寿命与实时性平衡：软件优化实践

  在高性能嵌入式AI推理边缘设备中，我们常常面临一个两难的局面：AI模型参数的频繁更新（比如在线学习、A/B测试、个性化模型部署）和实时数据的快速记录（如传感器数据、推理结果、设备状态日志），都对作为主要非易失性存储介质的Flash内存提出...

  2026/1/22 0 29 0 0 0 边缘AI嵌入式系统Flash优化