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Flash磨损
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资源受限MCU的A/B OTA开发实战：从流程设计到自动化测试的最佳实践
在物联网和智能硬件领域，基于MCU的固件OTA升级是产品迭代和修复的关键环节。然而，对于资源受限的MCU（如RAM仅几十KB，Flash几百KB），实现稳定可靠的A/B升级充满挑战。本文将结合实战经验，分享在资源紧张环境下开发A/B OT...
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优化OTA固件更新中的SPI Flash寿命：磨损均衡与健康度监控实践
在物联网设备和嵌入式系统中，通过OTA（Over-The-Air）进行固件更新已成为标准实践。外部SPI Flash作为固件存储介质，其擦写寿命（通常为1万到10万次循环）是一个不容忽视的关键问题。频繁的OTA更新操作若不加注意，可能导致...
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物联网设备频繁写日志的Flash磨损管理：SD卡分担压力的可行性分析
在物联网设备中，频繁记录日志是常态，尤其是那些需要长期运行、监控状态或记录事件的设备。闪存（Flash）作为主流的非易失性存储介质，其写入寿命（P/E循环）是固有的瓶颈。频繁的日志写入确实会加速Flash的磨损，最终可能导致存储失效。你提...
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边缘AI设备Flash寿命与实时性平衡：软件优化实践
在高性能嵌入式AI推理边缘设备中，我们常常面临一个两难的局面：AI模型参数的频繁更新（比如在线学习、A/B测试、个性化模型部署）和实时数据的快速记录（如传感器数据、推理结果、设备状态日志），都对作为主要非易失性存储介质的Flash内存提出...